英铂助力苏州XX公司搭建8寸全自动SiC晶圆级CP电学测试系统返回列表

SEMICS 6-8英寸晶圆测试探针台

产品介绍：

OPUS3 SE 设备专为6 英寸、8 英寸晶圆测试设计，机身经过优化，占地面积紧凑。该设备结构小巧，具备高精度特性，可实现稳定可靠的接触/探针测试功能，有效提升产能。

产品优势：

• 专为6 英寸及 8 英寸晶圆设计

• 节省空间、占地面积紧凑

• 稳定可靠的温控系统

• 稳固的Z轴升降结构

• 晶圆偏移防护，对位快速准确

• 实时工艺程序校验

• 智能的探针针尖对位算法

• 智能探针测试路径优化算法

产品应用：

支持数字混合/SOC、汽车电子/电源产品、CIS/MEMS等类型芯片测试，可适用于6英寸、8英寸的晶圆测试。

DTS-1000分立器件测试系统

产品介绍：

DTS-1000系统测试机通过与分选机、探针台连接，可实现半导体分立器件的高速测试、分选。系统具有良好的扩展性，电压可扩展最大到3000伏（V），电流最大到200安（A）。

产品优势：

• 多种系统配置                     • 多功能的操作软件

• 系统良好的扩展性              • 简单的维修

• 更高效的产能                     • 未来的可扩展性

• 简单的外部接口

产品应用：

该系统可测器件包括晶体管（Transistor）、场效应管(MOS-FET)、二极管(Diode)、稳压管二极管(Zener)，晶体管开关时间（TS），容量测试(CV)，热电阻（dVBE，dVDS），可测试可控硅(SCR)、稳压管(3 Terminal Regulator、Shunt Regulator)、放电管(TVS)等等。