英铂助集美大学搭建半导体器件低温电学测试系统返回列表
CPS-50低温真空闭循环磁场探针台
产品应用：
它可以对器件进行非破坏性的测试，适用于材料或器件的电学特性测量、光电特性测量、参数测量、high Z测量、DC测量、RF测量和微波特性测量等。
产品参数：
• 采用闭循环制冷机制冷，不需消耗任何液氮或液氦
• 基本系统温度范围：8K(1.5W冷头）10K(1.2W冷头）到350K，系统冷却时间<2小时
• 高温选件温度范围：20K到675K
• 探针臂分别在防辐射屏和样品台上热沉，探针臂上安装温度感器进行温度监测
• 控温稳定性：小于100K时，温度稳定性≤士50mK;全温度区间，温度稳定性≤士10
• 样品更换循环时间4小时
• 低振动设计
• 测量DC到67GHz
• 各种样品架适于低噪音，高频，高阻测量
• 最大测试样品尺寸51mm（2in)直径
• 最多可使用6个探针臂
• 探针臂可进行3轴调整和平面内士5度的调整
产品介绍：
CPS-50是一个低成本不需要低温制冷剂的探针台，器件的最大尺寸可达到51mm(2inch)，低温磁场探针台器件最大尺寸30mm。系统的探针、测线缆、样品架都有多种类型可供选择，可满足不同用户的需要。
FS-Pro半导体参数测试系统
产品介绍：
FS-Pro半导体参数测试系统是一款功能全面、配置灵活的半导体器件电学特性分析设备。
在一个系统中实现了电流电压(IV)测试、电容电压(CV)测试、脉冲式IV测试、任意线性波形发生与测量、高速波形发生与釆集以及低频噪声测试能力，几乎所有半导体器件的低频特性表征都可以在FS-Pro测试系统中完成。
产品优势：
1.一体化设备，单机可采集高精度IV、CV、脉冲IV高速波形和瞬态IV采样及1/f噪声
2.功能强大，宽电压电流输出范围、高精度支持高速采样时域信号采集和任意线性波形生成
3.广受认可，被众多科研院所、芯片设计公司和代工厂、IDM公司釆用，目前已有国内外百余家客户
4.模块化架构，支持灵活、可扩展的测试配置
5.简单易用，内置专业LabExpress测量控制分析软件，无需复杂编程可实现数据测量设置、执行和数据分析
6.源表，可用作981X系列内部SMU模块，无缝集成到981X系列噪声测试系统
产品应用：
广泛应用于各种半导体器件、LED材料、二维材料器件、金属材料、新型先进材料与器件测试、器件可靠性等研究领域。
