英铂携手凌光红外助力华师大搭建微光显微镜测试系统返回列表

产品介绍:
LUXET InGaAs 50 or 100是一款微光显微镜系统。配备了手动运动系统(可选配全自动运动系统)、深度制冷型InGaAs相机、不同倍率的显微镜头以及锁相测量模式,可以适用于半导体器件的失效点定位。
产品优势:
1、深度制冷InGaAs相机
•波长范围覆盖900-1700nm,深度制冷InGaAs相机(配置决定),深度制冷相机在近红外波段有极高的量子效率。
2、不同倍率的显微镜头
•1.35X,5X,20X,50X,100X
3、LOCK-IN
•提供锁相测量模式,锁相测量模式是通过调制施加的功率,利用数字锁相算法来达到降低背景噪声的目的。利用这个技术,器件的失效点可以非常精准地被定位出来。
4、可配置测量软件
•自主研发的测量软件,包含图像暂存、电压-电流测量等功能。
产品应用:
可广泛应用于侦测各种元件缺陷所产生的漏电流,包括闸极氧化层缺陷(Gateoxidedefects)、静电放电破坏(ESDFailure)、闩锁效应(LatchUp)、漏电(Leakage)、接面漏电(JunctionLeakage)、顺向偏压(ForwardBias)及在饱和区域操作的电晶体,可藉由该系统进行定位,找热点(HotSpot或找亮点)位置,进而得知缺陷原因,帮助后续进一步的故障分析。多应用场景:如CMOS传感器、PCB板材、封装器件、LED相关晶体管等检测分析。













