英铂助力甬江实验室搭建半导体器件低温光电测试系统返回列表

产品应用：

此次项目主要应用于半导体器件的低温光电测试。

CPS-50可以对器件进行非破坏性的测试，适用于材料或器件的电学特性测量、光电特性测量、参数测量、high Z测量、DC测量、RF测量和微波特性测量等。

产品参数：

• 采用闭循环制冷机制冷，不需消耗任何液氮或液氦

• 基本系统温度范围：8K(1.5W冷头）10K(1.2W冷头）到350K，系统冷却时间<2小时

• 高温选件温度范围：20K到675K

• 探针臂分别在防辐射屏和样品台上热沉，探针臂上安装温度感器进行温度监测

• 控温稳定性：小于100K时，温度稳定性≤士50mK;全温度区间，温度稳定性≤士10

• 样品更换循环时间4小时

• 低振动设计

• 测量DC到67GHz

• 各种样品架适于低噪音，高频，高阻测量

• 最大测试样品尺寸51mm（2in)直径

• 最多可使用6个探针臂

• 探针臂可进行3轴调整和平面内士5度的调整

产品介绍：

CPS-50是一个低成本不需要低温制冷剂的探针台，器件的最大尺寸可达到51mm(2inch)，低温磁场探针台器件最大尺寸30mm。系统的探针、测线缆、样品架都有多种类型可供选择，可满足不同用户的需要。