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探针台系统TS2000-DP Probe System特点与优势
TS2000-DP是MPI提供一套多功能且经济高效的8寸半自动高功率测试探针台，可在20°C至300°C的温度范围内进行晶圆载片上高功率应用的测 ...
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半自动晶圆级探针台系统TS2000 Probe Systems特点与优势
超大面积工作台TS2000系列提供了易于使用的大型探针座放置台面，以适应多达12套直流或4套射频的微定位器。集成了负载拉力调谐器或更大面积 ...
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手动晶圆级太赫兹探针台系统TS150-THZ
MPI TS150-THZ是全球首个150 mm高频专用探针台，旨在对基板和150 mm晶圆进行精确分析。TS150-THZ可以支持多种RF和毫米波(mmW)应用，例如 ...
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手动晶圆级太赫兹探针台系统TS150-AIT & TS200-THZ
TS150-AIT和TS200-THZ探针系统专为新兴的THz应用而设计，例如高速5G通信，卫星，非侵入性光谱，医疗保健设备以及短距离汽车雷达等，其方法 ...
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业界领先的1/f & RTN测试方案TS3000-SE半自动12寸直流/射频探针台
业界领先的1 f & RTN测试方案TS3000-SE半自动12寸直流 射频探针台TS3000-SE探针系统的进一步发展,为超低噪声及准确和高度可靠的DC Cv,1 f ...
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全自动晶圆级探针台系统TS2500 Series Probe System
MPI的200毫米 8寸全自动探针台系统系列是专门为解决射频(RF)和大功率晶圆测试而开发的，该系统旨在实现24 7的生产可靠性，并与所有MPI系统 ...
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手动晶圆级探针台系统TS200-SE Probe System
MPI TS200-ShielDEnvironment™(TS200-SE)8英寸探针台可提供高级EMI RFI 不透光屏蔽，超低噪声，低泄漏测量功能。适用于多种晶 ...
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高功率探针台系统TS150-HP & TS200-HP
高功率探针台系统TS150-HP & TS200-HPMPI大功率器件表征系统是专门为晶圆上大功率器件测试而设计的。MPI TS150-HP和TS200-HP探针系统提 ...
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Vcsel探针台光电测试系统技术参数和尺寸信息
Vcsel探针台光电测试系统技术参数Vcsel探针台光电测试系统尺寸信息Side ViewFront View点击查看更多Vcsel探针台...
