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差分射频探针
产品概要：
差分射频探针扩展了 MPI 专有的 TITAN™射频探测技术，用于表征射频集成电路。
基本信息：
该探针具有多达 15 个触点，每个触点的射频带宽高达 6 GHz，间距从 50 到 300μm 不等，完全可根据您的测试需求进行配置。使用在线设计捕获表通过根据您的 IC 焊盘布局选择射频信号（S）、逻辑（L）和电源（P）通道来构建您的探头。
技术优势：
差分射频探针可以通过使用模块化设计、预标准化组件和 MPI 自己的基于 MEMS 的探头尖端技术进行单独配置，该技术可以快速交付。差分射频探针，它能够对大型集成电路进行宽温度范围的表征，并且在屏蔽环境中使用更方便。它的尺寸与标准射频探头完全兼容，因此它允许象限测试配置，而无需进一步重新调整。差分射频探针旨在降低现代高度集成射频集成电路的测试成本。它提供了 20μm 的接触宽度与较小的探头间距（从 50μm 开始）、较长的寿命（在铝焊盘上超过 100 万次触地周期）、经济实惠的价格和较短的交货时间的独特组合。
差分射频探针采用 MEMS 触点尖端，阻抗严格控制。它们确保高度可重复的校准和测量结果，以及在宽温度范围和多次接触循环次数下均匀的接触特性。
与任何其他 MPI 射频探头一样，差分射频探针由于独特的突出尖端设计，可提供尖端触点的出色实时可视化。
主要应用：
差分射频探针的主要应用领域包括射频集成电路（RF IC）的表征和测试。该探头通过多触点设计，能够同时对多个信号通道进行测试，特别适用于高度集成的RF IC的测试需求。
