Hanwa HED-W5000M
低成本高性能晶圆ESD测试仪。
从LED到系统LSI的大口径Wafer，可适用于HBM和MM的放电 ESD印加后，可根据漏电流测试判断pass/fail 并且可以与ESD测试有关联性的TLP测试设备进行组合测试 对ESD测试中发生问题的器件，能有效取得保护电路中的工作参数，是满足日本、国际标准的高可靠性设备。（满足JEITA/ESDA/JEDEC规格）
全球首个155mm高频专用探针台，专为高达1.5THz或更高的mmW和THz晶圆上测量而设计；
无缝集成任何高达1.5THz的带 差分或宽带扩频器；最大的机械稳定性和可重复性，结合方便和安全的操作；
低成本高性能晶圆ESD测试仪。
从LED到系统LSI的大口径Wafer，可适用于HBM和MM的放电 ESD印加后，可根据漏电流测试判断pass/fail 并且可以与ESD测试有关联性的TLP测试设备进行组合测试 对ESD测试中发生问题的器件，能有效取得保护电路中的工作参数，是满足日本、国际标准的高可靠性设备。（满足JEITA/ESDA/JEDEC规格）
• HBM波形在晶圆级实时捕获。
• 符合J EDEC、ESDA和JEITA标准。
• 提高效率，使用一个测试仪执行两个测试。
• Zap装置可以安装在探测站上。
• 封装级性能可以从晶圆级测试结果推断出来。
• 可选HMM zap测试（IEC 61000-4-2）。
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