Hanwa HED-T5000高性能TLP

产品概要：

此设备用于半导体元器件静电保护电路抗静电能力的测试，通过该测试可以清楚的了解到元器件的抗静电能力的特性参数，器件开发人员通过这些参数可以了解到元器件ESD设计窗口，从而对元器件保护电路作进一步改进；该设备也可通过给GATE端加DC电源，测试功率器件的SOA特性曲线。

基本信息：

技术优势：

1、此设备配备了最先进的测试模式
2、对于器件管脚的入射波和器件管脚发出的反射波，都可在示波器上确认到
3、此数据会自动保存，并在专用的显示软件上表示
4、专用显示软件可对入射波/反射波的合计值，snapback特性以及漏电流测试的电流值进行图形描绘
5、被保存的示波器上的数据可以进行高自由度的演算处理，比如，对于不同工艺的晶体管的ON电压及可以加在保护电路上的最大电流值等，可以通过曲线的重叠描绘来确认其差异，并且可以与半自动探针台连接，实现TLP测试的自动化
6、可以在Wafer level上进行印加管脚间或芯片间的自动移位，所以能够很大地提升测试效率

应用方向：

1、具备印加脉冲宽度为100ns/200ns的normal TLP测试与宽度到1ns的VF-TLP(Very Fast TLP)测试模式
2、有助于验证HBM/CDM模式的测试

Hanwa HED-T5000高性能TLP

数据整合分析：

Hanwa HED-T5000高性能TLP

Hanwa HED-T5000高性能TLP

Hanwa HED-T5000高性能TLP