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Cantilever Probe Card

MPl悬臂探针卡广泛应用于金凸点和焊盘晶圆测试,用于显示驱动器、逻辑和存储设备。MPI的悬臂式探头是对细间距、小焊盘尺寸、高速、清洁少、多DUT、高引脚数和超低泄漏要求的相应解决方案。凭借卓越的工艺、创新的架构和基于机械和电气的成熟方法模拟/测量结果,使MPI成为全球顶尖的悬臂供应商。

特点与优势

  • 悬臂梁的主要特点

     

     

    • 使用对角线或托架应用程序执行多个DUT配置,以实现超常规对齐和平面度

     

    • 减少高温或低温试验期间的热变形

     

    • R+和U+结构的高速解决方案,用于严格的Pl和Sl应用

     

    • 通过先进的探针材料和设计,稳定低接触电阻性能

     

    • 交付周期短,是工程设备的理想选择