噪声参数测试系统
Maury 噪声参数测试系统的噪声系数是衡量低噪声器件或者噪声放大器噪声特性最常用的品质因素，将噪声系数降到最小程度可以减小噪声对系统信噪比造成的影响。描述变化关系引入噪声参数来表征噪声器件的特性的测试系统。
全球首个155mm高频专用探针台，专为高达1.5THz或更高的mmW和THz晶圆上测量而设计；
无缝集成任何高达1.5THz的带 差分或宽带扩频器；最大的机械稳定性和可重复性，结合方便和安全的操作；
4200A-SCS 是一种可以量身定制、全面集成的参数分析仪，可以同步查看电流电压 (I-V)、电容电压 (C-V) 和超快速脉冲式 I-V 特性。 作为性能最高的参数分析仪，4200A-SCS加快了半导体、材料和工艺开发速度。
Maury 噪声参数测试系统的噪声系数是衡量低噪声器件或者噪声放大器噪声特性最常用的品质因素，将噪声系数降到最小程度可以减小噪声对系统信噪比造成的影响。描述变化关系引入噪声参数来表征噪声器件的特性的测试系统。
Maury的噪声参数测量系统集成了噪声接收机，阻抗调配器，网络分析仪，系统测量软件以及相应的噪声输入和输出模块，其中输入和输出噪声模块（Noise Switch Module和Noise Receiver Module）在紧凑的空间内集成了低噪放（NRM），下变频器件（对于毫米波频段），T型偏置和开关，与PNA-X或者是噪声分析仪只需要直接连接即可以简便地完成整个系统的搭建，同时内置的LNA模块可以将系统噪声接收机噪声系统降低5~6 dB，大大增加系统的测量准确性和可靠性，为用户超快速且精准地完成噪声参数测试。
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