MPI 手动晶圆级探针台系统（微屏蔽）TS300-SE/TS200-SE返回列表
MPI 手动晶圆级探针台系统(微屏蔽)完善的半导体领域、微纳米实验室测试方案集成商TS300-SE Probe SystemMPI TS300-ShielDEnvironment&t
MPI 手动晶圆级探针台系统(微屏蔽)
完善的半导体领域、微纳米实验室测试方案集成商
MPI TS300-ShielDEnvironment™(TS300-SE)12英寸探针台旨在对300mm晶圆及以下微小器件提供高级EMI / RFI /不透光屏蔽，超低噪声，低泄漏测量功能环境。 它以较佳高度与防震台结合在一起，使日常操作非常方便。
适用于多种晶圆量测应用
• ，如组件特性描述和建模、射频和毫米波、晶圆级可靠性 (WLR) 和失效分析 (FA)
MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽环境
• 專為 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所设计的精密量测环境
• 支援飞安级低漏电量量测
• 内置防震系统
MPI TS200-ShielDEnvironment™(TS200-SE)8英寸探针台可提供高级EMI / RFI /不透光屏蔽，超低噪声，低泄漏测量功能。
适用于多种晶圆量测应用，
• 如组件特性描述和建模、射频和毫米波、晶圆级可靠性 (WLR) 和失效分析 (FA)
MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽环境
• 專為 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所设计的精密量测环境
• 支援飞安级低漏电量量测
• 温度量测范围 -60 °C 至 300 °C
