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低温磁场探针台半自动探针台主要技术指标
发布时间:2022-01-19   浏览:

超低温半自动探针台其提供了一个经济的, 稳定的, 可靠的超低温和强磁场环境用于微纳器件和芯片的测试. 得益于优异的振动隔离、热力学,使这套系统应用非常广泛, 横跨纳米电子学自旋电子学 , 分子电子学等。

系统使用闭循环制冷机和优异的热力学设计,特别设计的低振动系统,达到行业的最优标准。超稳定的位移台为探针扎针测试提供一个可重复的测试结果。可选择性的探针和晶圆卡盘提供了超精密fA-级测试。 系统可进行DC/RF/毫米波/光纤等多种光电定位性能测试。

主要技术指标

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· 高性价比, 稳定,可靠,使用方便

· 温度范围 10K -400K

· 4.2K- 480K (可选)

· 闭循环制冷,无需消耗液氦

· 样品座尺寸: 1英寸( 2英寸可选)

· DC - 325GHz 、HP、光纤臂可选

· 4个探针臂 (最多可选配6个探针臂),高精度XYZ and 可选 θ 旋转调节

· 在探针上独特的热沉设计

· 样品座和防辐射屏温度可控

· 窗口(高纯石英-其他材质可选)

· 高频减震系统

· 可提供垂直、水平以及多维磁场垂直方向可达到5T,水平方向达到1T以及1T的多维磁场配置

· 系统集成Labview软件,可方便被客户进行仪表端集成

如果以上不能满足您的测试需求,我们将会提供高水平的定制服务

 

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本文关键词:

磁场探针台 半自动探针台 低温探针台 技术指标


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