光电器件的LIV特性测试方案
概述

LIV即光电特性,是验证激光二极管、探测器性能的普遍的方法。在晶圆、切割、管芯、封装后老化测试过程中,为降低生产成本同时增加产品吞吐量,快速可靠的 LIV测试 系统对制造光电器件的工厂是很重要的。

根据Laser Diode工作原理,通常技术人员要用到电流源来驱动LD工作,产生光的同时用光功率计测量光功率来完成LIV 特性测试。在不同的测试阶段例如Chip测试,技术人员将电流源、电压表、电流表、开关、同步触发单元、光功率计集成起来才能完成测试,同时老化测试前后需要将每个管芯或模块的测试数据进行比对,大大增加了系统的复杂程度,影响了测试精度和数据可靠性。

溪谷科技开发的LIV测试系统采用Keithley精密源测量单元为核心,结合测试软件CycleStar以及第三方设备积分球探测器完成LD 的 LIV 测试。系统结构简单、精度高、可靠性好、速度快,提高生产效率的同时也增加了测试精度和可靠性,并且降低了测试成本。